涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号：M410468 
测量原理：磁感应
测量范围：0.0~500μm
测量间隔：
1.5s(单次模式)
0.4s(连续模式)
分辨率：
0.1μm:（0μm ～ 99.9μm）
1μm:（100μm ～500μm）
重复性：≤±（0.8%H+0.1μm）手压测试机架测试
误差：±（2%H+0.3μm）五点校准
单位：μm / mil
曲率半径：凸面1.5mm，凹面10mm

基体厚度：0.1mm

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